一.概述:
物位測(cè)量的儀表在選用時(shí),與壓力或是流量測(cè)量等儀表有很大的不同。這主要是因?yàn)槲镂粶y(cè)量的現(xiàn)場(chǎng)情況千差萬(wàn)別,而生產(chǎn)商又很難設(shè)計(jì)出能滿足所有工況應(yīng)用的物位儀表。只有充分的了解儀表特點(diǎn)及現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用條件,才能正確的選擇所需要的產(chǎn)品,同時(shí)需要充分發(fā)揮儀表的測(cè)量性能。
在非接觸式物位測(cè)量的儀表中,一般是有超聲波物位計(jì)和雷達(dá)物位計(jì)兩種儀表,而后者占有了主要的地位. 這是因?yàn)槔走_(dá)技術(shù)的應(yīng)用近年來(lái)獲得了快速發(fā)展. 雷達(dá)物位計(jì)中高頻頭和天線都是眼睛,回波處理是物位計(jì)的大腦。雷達(dá)物位計(jì)發(fā)出的電磁波遇到了被測(cè)介質(zhì)反射,反射回波的質(zhì)量反映了物位計(jì)應(yīng)用的效果?;夭ㄙ|(zhì)量的定義為最小回波幅度(在最惡劣的條件下回波幅度)與最大噪聲幅度(虛假回波、多徑反射波等)之比?;夭ㄙ|(zhì)量的數(shù)值越大,物位計(jì)測(cè)量效果越好。
雷達(dá)物位計(jì)的回波質(zhì)量主要受以下原因的影響:
1.傳播的介質(zhì)介電常數(shù),該常數(shù)越穩(wěn)定越是有利于傳播。雷達(dá)波是電磁波,電磁波在傳播的過程中不受傳播介質(zhì)穩(wěn)定程度的影響,只是與其介電常數(shù)有關(guān)。這是雷達(dá)技術(shù)與超聲波技術(shù)的區(qū)別。
2.被測(cè)介質(zhì)的是表面狀況,表面越平整,其介電常數(shù)越大,則越有利于對(duì)回波反射。
所以考慮到現(xiàn)場(chǎng)情況時(shí),應(yīng)當(dāng)特別注意這兩個(gè)方面:
1.天線到被測(cè)介質(zhì)的空氣時(shí),介電常數(shù)的分布。
2.被測(cè)介質(zhì)的表面狀態(tài)及其介電的常數(shù)。
雷達(dá)物位計(jì)的優(yōu)點(diǎn)是:
不受空氣波動(dòng)的影響,隨距離衰減小,穿透力強(qiáng)。
同時(shí)雷達(dá)物位計(jì)也存在有一定的局限性;
其一,影響雷達(dá)物位計(jì)的性能介電常數(shù),在真空中雷達(dá)衰減是極小,當(dāng)空氣中存有影響雷達(dá)衰減的物質(zhì)時(shí),例如:有高介電性的粉塵粉末(石墨,鐵合金等),水蒸氣等,它的測(cè)量距離和效果都會(huì)受到影響。
其二,如果被測(cè)介質(zhì)的揮發(fā)氣體在天線上聚集,或是水蒸汽在天線上聚結(jié),此時(shí),就會(huì)影響到雷達(dá)波發(fā)射,嚴(yán)重時(shí)可導(dǎo)致雷達(dá)波不能發(fā)出。
其三,被測(cè)介質(zhì)的介電常數(shù)不能太小了
其四,盡管溫度和壓力對(duì)雷達(dá)影響是極小的,但是由于雷達(dá)天線是由不同材料做成,雷達(dá)物位計(jì)可適應(yīng)于溫度和壓力的范圍是取決于其天線所使用的材料,與物位計(jì)本身的密封結(jié)構(gòu)。
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